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產(chǎn)品介紹：

光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個被普遍認(rèn)可的重要測量手段。

波威提供的MiniPL為模塊化設(shè)計、計算機自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀。

MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源，配合獨特的光路設(shè)計，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進行數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。

產(chǎn)品特點：

l  采激光器：224nm (5.5 eV)或 248.6nm (5.0 eV)

l  光譜范圍：230-650nm（@224nm激發(fā)）或250-650nm（@248.6nm激發(fā)）

l  分辨率：0.7nm（@1200g/mm光柵，標(biāo)配）

        0.2nm（@3600g/mm光柵，選配）

l  探測器：高靈敏度PMT

l  采集器：門閘積分平均器Boxcar

l  光譜分析軟件（LabView）：半峰寬、峰值波長、副峰鑒別、背景扣除、歸一化等

l  最大可測量50mm直徑樣品，標(biāo)配XYZ三維手動可調(diào)樣品臺

l  體積：15 x 18 x 36cm，重量：<8Kg

升級選項：

l  X-Y電動樣品臺，實現(xiàn)Mapping功能

l  低溫制冷機：10K-325K或77K-600℃可選

產(chǎn)品應(yīng)用：

l  表征半導(dǎo)體材料摻雜水平

l  合成組分分析

l  帶隙分析等

l  半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測

產(chǎn)品參數(shù)：