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  數字化X射線勞厄解決方案

• 系統采用獨特的背向散射角度采集和最終對準精度可以低至0.2度（高端需求可達0.02度），與高靈敏度偏振片相比，曝光時間可減少2個數量級以上，實現實時勞厄圖案記錄。

•   結合電動樣本旋轉平臺，系統的晶體定位程序變得更簡單、更靈活。

•   采集軟件從電腦提供準備好索引的數字圖像到Linux程控設備，系統利用Orient Express軟件分析圖像，獲得晶向或用已知結構對現有晶體進行標引。

集成光束準直到數字勞厄探測器，比薄膜圖案采集快10倍以上

• 數字勞厄探測器允許比薄膜更快的收集

• 相機系統可安裝銅、鉬或者鎢靶X光源（長細聚焦、細聚焦或者點聚焦）。X光源在相機內準直后直接照射到樣品上，可與高靈敏度偏振片的凈磁通增益相當。根據晶體材料和使用光源，可以在1至30秒曝光后記錄勞厄圖案。

  數字化X射線勞厄探測器可以在一小時內安裝，替代傳統的偏振勞厄感光片

• 數字勞厄相機配備了綜合校準套件，技術人員/工程師可以對傳統的膠片暗盒探測器進行升級換代。

• 準直器的選擇，可以讓你根據測量晶體種類選擇正確的通量/分辨率。

• 標準數字化勞厄相機比高靈敏度偏振片減少了兩倍的數據采集時間。