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偏振相關損耗測試儀PDL-201
產品簡介：采用專利最大最小搜索技術，PDL測試儀能在30ms內，同時測量待測器件的偏振相關損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度，可獲得最精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650nm，無需波長校準，比基
- 產品名稱： 偏振相關損耗測試儀PDL-201
- 合作廠商： 波威
詳細信息
產品簡介：
采用專利最大最小搜索技術，PDL測試儀能在30 ms內，同時測量待測器件的偏振相關損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度，可獲得最精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確。它帶有USB、以太網、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。能快速、精確測量與波長相關的無源器件的特性，尤其適用于制造或實驗室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動態范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。
主要技術參數：
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波長： |
1260-1620 nm |
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分辨率 |
0.01 dB |
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PDL 精確度1,2,3 |
±(0.01 + 5% of PDL) (dB) |
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PDL 重復性1 |
±(0.005 + 2% of PDL) (dB) |
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PDL 動態范圍4 |
0 to 45 dB |
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IL 精確度1,2,3 |
±(0.01 + 5% of IL) (dB) |
|
IL 重復性1 |
±(0.005 dB + 2% of IL) (dB) |
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IL 動態范圍4 |
0 to 45 dB |
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輸入光功率 |
-40 to 6 dBm |
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光功率精度 |
±0.25 dB |
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波長校準( 功率測量) |
1260-1360 nm ； 1440-1620 nm |
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測量速度 |
30 ms/次 (input >-30 dBm) |
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操作溫度 |
0 to 50℃ |
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存儲溫度 |
-20 to 70℃ |
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光連接器類型 |
光源、 DUT 輸入：APC |
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DUT輸出 |
自由空間適配器 |
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模擬輸出 |
0-4V PDL監控電壓 (用戶自定義PDL范圍) (0-3.5V PDL線性變化, 4V 指示低功率) |
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電源供應 |
100–240VAC, 50–60Hz |
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通訊接口 |
USB, Ethernet, RS-232, and GPIB |
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尺寸 |
2U, 19” 半架寬度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L) |
備注:數據在23±5°C溫度下，10組平均值所得。精確的偏振相關損耗測試還取決于測試設置。輸入功率 ≥0 dBm，用戶自定義功率計測量模式。